Новый подход к проектированию цепи сканирования для встроенного самотестирования СБИС

В работе предлагается новый подход к проектированию цепи сканирования, основанный на применении $\mathrm T$-триггеров вместо традиционно используемых $\mathrm D$-триггеров. Реализация данного подхода позволяет уменьшить время трансляции детерминированных тестовых наборов, улучшить качество псевдослучайных тестовых наборов при функционировании цепи сканирования в качестве источника тестовых воздействий, а также повысить достоверность тестового эксперимента при использовании цепи сканирования в качестве устройства сжатия реакций.