Функциональное тестирование RISC-микропроцессоров

Рассмотрена концепция функционального тестирования микропроцессора, основанная на функциональной декомпозиции модели и ориентированная на особенности RISC-архитектуры. Представлены концептуальные модели RISC-микропроцессора как объекта тестирования в формах блок-схемы и обобщенного графа регистровых передач. Определены пути и этапы тестирования, рассмотрены процедуры синтеза тестов для основных механизмов и функциональных модулей микропроцессора; особое внимание уделено проверке механизмов управления обработкой и передачей данных. Эффективность процедур тестирования свидетельствует о высокой тестопригодности RISC-архитектуры.