Технология Iddq тестирования одномерных итерационных логических структур

В статье рассматривается одна из новейших технологий тестирования, основанная на измерении потребляемого тока схемы в статическом состоянии, Iddq тестирование, и возможность ее применения для обнаружения мостиковых неисправностей в итерационных логических структурах. Основной целью данной работы является получение методики построения оптимальных Iddq тестов, которая основывается на изучении и выявлении особенностей построения схем с итерационной логической структурой.