Ю. В. Быков, Л. А. Закревский, В. Н. Ярмолик, “Выбор оптимальных многопараметрических распределений вероятностей входных переменных при вероятностном тестировании цифровых схем”, Автомат. и телемех., 1994, выпуск 4,страницы 144

Техническая диагностика

Выбор оптимальных многопараметрических распределений вероятностей входных переменных при вероятностном тестировании цифровых схем

Ю. В. Быков, Л. А. Закревский, В. Н. Ярмолик

Минский радиотехнический институт

Аннотация: Предлагается метод оптимизации значений вероятностей генерирования бит в тестовых последовательностях, используемых для тестирования цифровых схем.

УДК: 681.326.7

Поступила в редакцию: 30.07.1993