Аннотация:
Появление технологии КМОП поставило сложные проблемы тестового диагностирования (тестирования) КМОП-схем. Поведение КМОП-схемы может существенно отличаться от поведения ЭСЛ (ТТЛ)-схемы. Использование существующих алгоритмов тестирования, ориентированных на обнаружение традиционного класса константных неисправностей, не дает эффекта для КМОП-схем. В данном обзоре рассматриваются характерные для КМОП-технологии дефекты, модели неисправностей, алгоритмы моделирования и тестирования, методы обеспечения структурной, схемной и топологической тестопригодности, самотестируемые структуры.