Аннотация:
Рассмотрены различные подходы к проектированию дискретных устройств, учитывающему необходимость организации тестового диагностирования устройства в процессе производства и эксплуатации. Приведено количественное сравнение различных методов с учетом необходимой схемной избыточности и получаемого объема теста.