Безусловный алгоритм поиска кратных дефектов в комбинационных устройствах

Рассматривается подход к поиску кратных дефектов в комбинационных устройствах, основанный на использовании групп тестовых наборов, реакции на которые неисправного устройства выявляют в нем исправные ветви. Предлагается алгоритм синтеза из групп наборов полных тестов поиска кратных дефектов и доказывается, что выделение исправных ветвей в неисправной схеме по результатам подачи данных тестов позволяет достичь в произвольном комбинационном устройстве максимальной глубины поиска кратных дефектов. Алгоритм поиска является при этом безусловным, не требует анализа топологии схемы и переработки больших информационных массивов при поиске.