Построение проверяющих тестов дискретных устройств по кубическим покрытиям

Предлагается новый метод построения проверяющих тестов дискретных устройств, основанный на задании функций, реализуемых устройствами, их кубическими покрытиями. Единичные и нулевые покрытия комбинационного устройства получаются одновременно процедурой прямой подстановки. В получаемых кубах сохраняются значения выходов внутренних элементов. Формулируется и обосновывается процедура построения тестов, проверяющих константные неисправности выходов элементов и входов устройства. Метод обобщается на устройство с памятью, представляемое логической сетью, в которой элементам приписаны задержки распространения сигнала. Строится итерационная процедура получения покрытий, не требующая идентификации обратных связей. По полученным покрытиям строятся проверяющие тесты.