Алгоритм полного перебора тестовых наборов при диагностировании цифровых интегральных схем и сигнатурный анализ

Изложен метод тестовой проверки цифровых интегральных микросхем на основе полного перебора входных воздействий и сигнатурного анализа выходных ответов.