Аннотация:
Рассматривается подход к диагностированию дискретных устройств, допускающий в ряде случаев экономию аппаратурных и программных затрат на диагностическое обеспечение. Приводятся примеры тестирования комбинационных устройств, устройств с памятью и их совокупностей.