Исправление байтов ошибок длины 4 и двойных независимых ошибок кодом Боуза — Чоудхури — Хоквингема в полупроводниковых запоминающих устройствах

Рассмотрено исправление ошибок, характерных для полупроводниковых запоминающих устройств большого объема: байтов ошибок длины 4 и двойных независимых ошибок. Предложены структура проверочной матрицы и алгоритм декодирования двоичного кода Боуза — Чоудхури — Хоквингема с расстоянием 6, позволяющие исправлять оба вида ошибок. Приведены способы построения проверочной матрицы, удобной для реализации на больших интегральных схемах. Даны оценки обнаруживающей способности алгоритма. Приведен пример блок-схемы декодера.