RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Автоматика и телемеханика // Архив

Автомат. и телемех., 1989, выпуск 12, страницы 118–129 (Mi at6495)

Техническая диагностика

Синтез функциональных тестов для однокристальных микропроцессоров

О. В. Гончаровский, Е. Л. Кон

Пермь

Аннотация: Определяются диагностические функциональные модели однокристальных микропроцессоров универсального и специального применения на уровне регистровых передач в форме логических схем. Предлагается способ построения функциональных тестов для этапов выборки и исполнения команд.

УДК: 681. 326.32:519.718.7


Поступила в редакцию: 21.04.1988


 Англоязычная версия: Automation and Remote Control, 1989, 50:12, 1710–1718

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024