Аннотация:
Излагаются методы построения проверяющего теста для комбинационных устройств и указываются способы распространения их на дискретные устройства с памятью. Описывается тест поиска кратных константных неисправностей для комбинационных устройств без разветвления на входных полюсах; тест отличается простотой построения и относительно короткой длиной.