Об одном методе нахождения контролируемых параметров для электронных схем, заданных многозначной логической моделью

Предлагается матричный метод определения минимальных подмножеств контролируемых параметров для проверки работоспособности и поиска неисправностей электронных схем непрерывного действия, заданных многозначной логической моделью. Даны основные блоки алгоритма для машинной реализации предлагаемого метода.