П. В. Гуляев, Е. Ю. Шелковников, А. В. Тюриков, А. И. Кириллов, “Многопроходовый метод определения взаимного смещения перекрывающихся изображений наночастиц”, ХФМ, 2015, том 17, выпуск 4,страницы 651

Многопроходовый метод определения взаимного смещения перекрывающихся изображений наночастиц

П. В. Гуляев, Е. Ю. Шелковников, А. В. Тюриков, А. И. Кириллов

Институт механики Уральского отделения РАН, 426067, г. Ижевск, ул. Т. Барамзиной, 34

Аннотация: Работа посвящена методам выделения особых точек изображения и определения взаимного сдвига двух перекрывающихся изображений. Описан процесс применения базисных функций для перекодирования изображений в представление, определяющее степень схожести фрагмента изображения и базисной функции. Показано, что обработка изображений различными базисными функциями и последующая фильтрация результатов позволяет повысить точность определения взаимного смещения изображений.

Ключевые слова: сканирующая зондовая микроскопия, коэффициент корреляции, характерные точки изображения, базисные функции, сдвиг изображений, гистограмма.

УДК: 621.385.833