А. Н. Чесалин, С. Я. Гродзенский, Н. Н. Ушкова, К. В. Болотин, А. В. Ставцев, “О сравнительной эффективности обнаружения разладки в многопараметрических технологических процессах с помощью многомерных двойных контрольных карт”, Comp. nanotechnol., 2023, том 10, выпуск 1,страницы 67

СИСТЕМНЫЙ АНАЛИЗ, УПРАВЛЕНИЕ И ОБРАБОТКА ИНФОРМАЦИИ, СТАТИСТИКА

О сравнительной эффективности обнаружения разладки в многопараметрических технологических процессах с помощью многомерных двойных контрольных карт

А. Н. Чесалин, С. Я. Гродзенский, Н. Н. Ушкова, К. В. Болотин, А. В. Ставцев

МИРЭА — Российский технологический университет, г. Москва

Аннотация: Исследуется проблема обнаружения разладки в многопараметрических технологических процессах, имеющих нормальное распределение, и заключающейся в отклонении от заданного значения выборочного среднего и выборочной дисперсии. Рассматриваются различные виды контрольных карт, позволяющие эффективно обнаруживать одновременное изменение среднего значения и дисперсии в многопараметрических технологических процессах. Методом статистического моделирования, проводится анализ сравнительной эффективности контрольных карт, даются практические рекомендации.

Ключевые слова: многопараметрический технологический процесс, обнаружение разладки, многомерные двойные контрольные карты, статистический контроль технологических процессов, метод Монте-Карло, тепловые карты.

УДК: 519.237

Поступила в редакцию: 18.02.2023
Принята в печать: 26.03.2023

DOI: 10.33693/2313-223X-2023-10-1-67-78