RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Компьютерная оптика // Архив

Компьютерная оптика, 2013, том 37, выпуск 3, страницы 326–331 (Mi co745)

ДИФРАКЦИОННАЯ ОПТИКА, ОПТИЧЕСКИЕ ТЕХНОЛОГИИ

Исследование поляризационной чувствительности ближнепольного микроскопа с использованием бинарной фазовой пластины

С. Н. Хонина, С. В. Алферов, С. В. Карпеев, О. Ю. Моисеев

Институт систем обработки изображений РАН

Аннотация: Проведены теоретические и экспериментальные исследования распределения компонент электрического поля в фокальной плоскости при вращении пластинки с фазовым скачком величиной p, помещённой в фокусируемый пучок. На основе сравнения теоретических и экспериментальных результатов проведён анализ поляризационной чувствительности различных апертурных металлизированных зондов. Показано, что с ростом диаметра открытой части заострённого конца зонда происходит существенное перераспределение чувствительности в пользу поперечных компонент электрического поля и рост коэффициента передачи сигнала через зонд.

Ключевые слова: острая фокусировка, пластинка с фазовым скачком, компоненты электрического поля, ближнепольный сканирующий микроскоп, металлизированные апертурные зонды.

Поступила в редакцию: 08.06.2013



© МИАН, 2025