Аннотация:
Предлагается метод преобразования любой части произвольной схемы в автоматном
базисе в подсхему, для которой возможна диагностика с хорошей локализацией возникающих неисправностей. Описано тестовое множество. Класс допустимых неисправностей весьма широк. Табл. 1, ил. 3, библиогр. 12.