КРИСТАЛЛОГРАФИЯ

Измерение изгиба кристаллических лент, вызываемого осевыми дислокациями, методами дифракционной электронной микроскопии

В. Н. Рожанский, Г. В. Бережкова

Институт кристаллографии АН СССР, г. Москва

Статья представлена к публикации: А. В. Шубников
Поступило: 19.02.1964