КРИСТАЛЛОГРАФИЯ

Прямой метод исследования электрического микрорельефа кристаллических поверхностей

Г. И. Дистлер, Ю. М. Герасимов, Н. М. Борисова

Институт кристаллографии АН СССР, г. Москва

УДК: 620.187

Статья представлена к публикации: А. В. Шубников
Поступило: 16.03.1965