КРИСТАЛЛОГРАФИЯ

Микроструктура напряжений в линиях скольжения и дислокации

В. Л. Инденбом, Г. Е. Томиловский

Институт кристаллографии АН СССР, г. Москва

Статья представлена к публикации: А. В. Шубников
Поступило: 20.06.1958