КРИСТАЛЛОГРАФИЯ

Вычисление парциальных и полных амплитуд рассеяния рентгеновских лучей в слейтеровском базисе

В. Г. Цирельсон, Е. В. Парини, Р. П. Озеров

Московский химико-технологический институт им. Д. И. Менделеева

УДК: 539.261

Статья представлена к публикации: Н. В. Белов
Поступило: 25.02.1980