RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Доклады Академии наук // Архив

Докл. АН СССР, 1980, том 255, номер 3, страницы 572–577 (Mi dan44065)

КРИСТАЛЛОГРАФИЯ

Рентгенографическое измерение микронапряжений в стеклокристаллических материалах

Е. А. Леви, Р. Я. Ходаковская, Е. А. Победимская, Н. В. Белов

Московский государственный университет имени М. В. Ломоносова

УДК: 548.3

Поступило: 09.06.1980



© МИАН, 2024