КРИСТАЛЛОГРАФИЯ

Определение коэффициентов представления одноэлектронной матрицы плотности кристалла из рентгеновских дифракционных данных

Ю. В. Александров, В. Г. Цирельсон, Р. П. Озеров

Московский химико-технологический институт им. Д. И. Менделеева

УДК: 539.261+541:530.145.6

Статья представлена к публикации: Н. В. Белов
Поступило: 28.12.1981