КРИСТАЛЛОГРАФИЯ

Роль принципов объемного соответствия в формировании границы раздела $\mathrm{Si}/\mathrm{SiO}_2$

А. В. Емельянов, B. B. Егоркин, Э. П. Бочкарев


УДК: 537.311.33

Поступило: 14.05.1984