КРИСТАЛЛОГРАФИЯ

Сплайн-коррекция функции электронной плотности на эффект обрыва ряда Фурье

В. Г. Цирельсон, В. А. Стрельцов, Р. П. Озеров

Московский химико-технологический институт им. Д.И. Менделеева

УДК: 548.736

Статья представлена к публикации: Б. К. Вайнштейн
Поступило: 17.04.1984