КРИСТАЛЛОГРАФИЯ

Возможности исследования упругих полей микродефектов методами рентгеновской топографии

В. Л. Инденбом, В. М. Каганер

Институт кристаллографии им. А.В. Шубникова АН СССР, г. Москва

УДК: 548.732

Статья представлена к публикации: Б. К. Вайнштейн
Поступило: 29.05.1984