RUS
ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ
// Доклады Академии наук
// Архив
Докл. АН СССР,
1986
, том 289,
номер 2,
страницы
355–358
(Mi dan47596)
КРИСТАЛЛОГРАФИЯ
Электронная микроскопия высокого разрешения тонких пленок сверхпроводящего соединения
$\mathrm{PbMo}_6\mathrm{S}_8$
А. Л. Васильев
abc
,
О. В. Уваров
abc
,
М. А. Гребенюк
abc
,
Н. А. Киселев
abc
,
М. О. Рикель
abc
,
Е. А. Ильичев
abc
,
В. И. Цебро
abc
a
Институт кристаллографии им. A.B. Шубникова АН СССР, г. Москва
b
Физический институт им. П. Н. Лебедева АН СССР, г. Москва
c
Институт металлургии им. А. А. Байкова АН СССР, г. Москва
УДК:
537.533.35
Поступило: 28.03.1986
Полный текст:
PDF файл (723 kB)
©
МИАН
, 2024