RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Доклады Академии наук // Архив

Докл. АН СССР, 1986, том 289, номер 2, страницы 355–358 (Mi dan47596)

КРИСТАЛЛОГРАФИЯ

Электронная микроскопия высокого разрешения тонких пленок сверхпроводящего соединения $\mathrm{PbMo}_6\mathrm{S}_8$

А. Л. Васильевabc, О. В. Уваровabc, М. А. Гребенюкabc, Н. А. Киселевabc, М. О. Рикельabc, Е. А. Ильичевabc, В. И. Цеброabc

a Институт кристаллографии им. A.B. Шубникова АН СССР, г. Москва
b Физический институт им. П. Н. Лебедева АН СССР, г. Москва
c Институт металлургии им. А. А. Байкова АН СССР, г. Москва

УДК: 537.533.35

Поступило: 28.03.1986



© МИАН, 2024