КРИСТАЛЛОГРАФИЯ

К методике нахождения структуры ленгмюровских пленок с малым числом слоев по данным рентгеновской рефлектометрии

О. В. Коновалов, Л. А. Фейгин

Институт кристаллографии им. A.B. Шубникова АН СССР, г. Москва

УДК: 548.737+539.233

Статья представлена к публикации: Б. К. Вайнштейн
Поступило: 08.07.1991