RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Функциональный анализ и его приложения // Архив

Функц. анализ и его прил., 2008, том 42, выпуск 4, страницы 24–36 (Mi faa2926)

Эта публикация цитируется в 33 статьях

Решение задачи дифференцирования абелевых функций по параметрам для семейств $(n,s)$-кривых

В. М. Бухштаберa, Д. В. Лейкинb

a Математический институт им. В. А. Стеклова РАН
b Институт магнетизма НАН Украины

Аннотация: Рассматривается широкий класс моделей плоских алгебраических кривых, так называемые $(n,s)$-кривые. Случай $(2,3)$ соответствует классической модели Вейерштрасса эллиптической кривой. На основе теории многомерных сигма-функций для каждой пары взаимно простых $n$ и $s$ получено эффективное описание алгебры Ли дифференцирований поля послойно абелевых функций на пространстве расслоения, база которого — пространство параметров семейства невырожденных $(n,s)$-кривых, а слои — якобианы этих кривых. Суть применяемого метода показана на примере эллиптических функций Вейерштрасса. Детально разобран случай семейства кривых рода 2.

Ключевые слова: сигма-функция, дифференцирование по параметрам, универсальное расслоение многообразий Якоби, $(n,s)$-кривая, векторное поле, касающееся дискриминанта особенности.

УДК: 517.958+515.178.2

Поступило в редакцию: 03.09.2008

DOI: 10.4213/faa2926


 Англоязычная версия: Functional Analysis and Its Applications, 2008, 42:4, 268–278

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2024