Аннотация:
В настоящей работе методами атомно-силовой и Кельвин-зондовой силовой микроскопии, рентгеновской дифракции, спектрофотометрии изучены оптические и электрофизические свойства тонких пленок диоксида олова с содержанием 1–5% La$^{3+}$, полученных методом окислительного пиролиза. Пленки оптически прозрачны, однородны, сформированы кристаллитами размером 21–24 nm. Пленка SnO$_2$ с 3% La$^{3+}$ обладает наибольшими значениями энергии активации, шероховатости и поверхностного потенциала.
Ключевые слова:
тонкие пленки диоксида олова, энергия активации.
Поступила в редакцию: 30.04.2024 Исправленный вариант: 28.10.2024 Принята в печать: 30.10.2024