Аннотация:
Представлены результаты исследований колебательных свойств слоистых кристаллов $\alpha$-In$_2$Se$_3$ при изменении количества составляющих их слоев. Совместный анализ данных спектроскопии КРС и атомно-силовой микроскопии с последующим теоретико-групповым анализом колебательных мод позволили установить закономерности изменения параметров спектральных линий в области высоких и сверхнизких ($\omega<$ 50 cm$^{-1}$) частот. Впервые показано, что частота высокочастотной линии $A_1$(3) ($\omega\sim$ 200 cm$^{-1}$) может быть использована для оценки толщины $\alpha$-In$_2$Se$_3$ в диапазоне от семи до нескольких десятков слоев.