Измерение высоты ступенек на поверхности монокристаллов методом фазового контраста в синхротронном излучении

Проведено экспериментальное и теоретическое исследование синхротронных фазово-контрастных изображений микроступенек на поверхности базисно-ограненной сапфировой ленты, выращенной по методу Степанова. Обсуждается сравнение полученных результатов с данными метода атомно-силовой микроскопии. Установлено, что высоту ступенек порядка 1 $\mu$m можно определить с помощью простой схемы метода фазово-контрастного изображения на просвет.