Выявление и исследование 60$^\circ$-поворотных доменов в $\alpha$-Ga$_2$O$_3$ методом просвечивающей электронной микроскопии

Установлены условия обнаружения и распознавания 60$^\circ$-поворотных доменов в пленках $\alpha$-Ga$_2$O$_3$ /$\alpha$-Al$_2$O$_3$ (0001). Изображения доменов получены методом просвечивающей электронной микроскопии высокого разрешения. Структурные характеристики выявленных доменов установлены путем приготовления образцов в поперечном и планарном сечениях, правильного выбора дифракционных условий и соответствующего режима регистрации изображений. В результате анализа экспериментальных данных определены размеры, пространственное расположение, объемная доля и площадь, занимаемая включениями доменов.