RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика твердого тела // Архив

Физика твердого тела, 2023, том 65, выпуск 9, страницы 1611–1617 (Mi ftt10817)

Физика поверхности, тонкие пленки

Количественный анализ пленочных структур с диффузной границей раздела, исследованных методом электронной Оже-спектроскопии

В. Е. Ремеле, М. А. Митцев, М. В. Кузьмин

Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, Санкт-Петербург, Россия

Аннотация: Предложена модель для интерпретации результатов электронной Оже-спектроскопии в случае пленочных систем с реакционно-способными границами раздела. Установлена количественная связь параметров переходного слоя и формы зависимостей величины Оже-сигнала подложки от толщины пленки в таких системах. Апробация модели проведена для трех границ раздела редкоземельный металл (Yb, Sm, Gd) – Si(111). Получены количественные данные, касающиеся их структуры и стехиометрического состава, а также зависимости указанных характеристик от термодинамических свойств исследованных редкоземельных металлов.

Ключевые слова: поверхность, тонкие пленки, граница раздела, электронная Оже-спектроскопия, редкоземельные металлы, кремний.

Поступила в редакцию: 25.06.2023
Исправленный вариант: 25.06.2023
Принята в печать: 03.07.2023

DOI: 10.21883/FTT.2023.09.56260.89



Реферативные базы данных:


© МИАН, 2025