RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика твердого тела // Архив

Физика твердого тела, 2022, том 64, выпуск 8, страницы 1101–1111 (Mi ftt11100)

Физика поверхности, тонкие пленки

Особенности зонной структуры и механизма латеральной фотопроводимости в гибридных структурах $T$/SiO$_2$/Si ($T$ = Fe, Fe$_3$O$_4$, TiO$_2$)

Т. А. Писаренкоab, В. В. Коробцовa, A. А. Димитриевab, В. В. Балашевabc, В. В. Железновd

a Институт автоматики и процессов управления ДВО РАН, Владивосток, Россия
b Дальневосточный федеральный университет, Владивосток, Россия
c Тихоокеанский океанологический институт им. В. И. Ильичева, ДВО РАН, Владивосток, Россия
d Институт химии ДВО РАН, Владивосток, Россия

Аннотация: Представлены результаты исследования латерального фотовольтаического эффекта в гибридных структурах на основе SiO$_2$/Si в зависимости от характера проводимости материала верхнего слоя (Fe – металл, Fe$_3$O$_4$ – полуметалл, TiO$_2$ – полуизолятор). Показано, что данный эффект наблюдается в гибридных структурах, в которых на границе раздела SiO$_2$/Si образуется обедненная область с значительным изгибом зон. Теоретические расчеты латерального фотонапряжения на основе данных энергетических параметров зонных диаграмм показали, что увеличение чувствительности латерального фотоэффекта связано с увеличением встроенного потенциала на границе раздела SiO$_2$/Si. Установлено, что переходные характеристики латерального фотоэффекта, такие как время нарастания и время спада сигнала фотонапряжения, определяются конфигурацией RC-фильтра в приконтактной области, которая зависит от проводимости верхнего слоя. Показано, что при латеральном фотовольтаическом эффекте токоперенос осуществляется по инверсионному слою, а верхний слой служит для генерации квази $p$$n$-перехода на границе раздела SiO$_2$/Si.

Ключевые слова: латеральный фотовольтаический эффект, гибридные структуры, железо, магнетит, диоксид титана.

Поступила в редакцию: 26.04.2022
Исправленный вариант: 26.04.2022
Принята в печать: 02.05.2022

DOI: 10.21883/FTT.2022.08.52714.363



Реферативные базы данных:


© МИАН, 2025