О. А. Чувенкова, Э. П. Домашевская, С. В. Рябцев, Ю. А. Юраков, А. Е. Попов, Д. А. Коюда, Д. Н. Нестеров, Д. Е. Спирин, Р. Ю. Овсянников, С. Ю. Турищев, “Исследование поверхностных дефектов в нитевидных кристаллах SnO$_2$ методами XANES и XPS”, Физика твердого тела, 2015, том 57, выпуск 1,страницы 145

Эта публикация цитируется в 46 статьях

Физика поверхности, тонкие пленки

Исследование поверхностных дефектов в нитевидных кристаллах SnO$_2$ методами XANES и XPS

О. А. Чувенкова^a, Э. П. Домашевская^a, С. В. Рябцев^a, Ю. А. Юраков^a, А. Е. Попов^a, Д. А. Коюда^a, Д. Н. Нестеров^a, Д. Е. Спирин^a, Р. Ю. Овсянников^b, С. Ю. Турищев^a

^a Воронежский государственный университет
^b Helmholtz-Zentrum Berlin, Berlin, Germany

Аннотация: Методами рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии и спектроскопии ближней тонкой структуры края рентгеновского поглощения с использованием синхротронного излучения исследованы нитевидные микро- и нанокристаллы SnO$_2$, полученные газотранспортным синтезом. Установлено влияние термообработки в сверхвысоком вакууме на состояние поверхности и образование вакансий в поверхностных слоях нитевидных кристаллов.

Поступила в редакцию: 27.03.2014
Принята в печать: 04.07.2014