Аннотация:
Измеренные в диапазоне частот от 10 до 10$^{11}$ Hz диэлектрические спектры сегнетоэлектрического кристалла триглицинсульфата проанализированы на основе представлений о заметном вкладе проводящей компоненты в диэлектрический отклик сегнетоэлектриков. С помощью контактной сканирующей резистивной микроскопии в режиме отображения растекания получено изображение линзовидного сегнетоэлектрического домена в кристалле триглицинсульфата и измерены фоновые токи и токи на доменной границе (токи фона 10$^{-14}$ A, токи на доменной границе 10$^{-12}$ A). Показано, что учет вклада проводимости в диэлектрические спектры дает хорошее согласие с экспериментом и позволяет получить дополнительную информацию о температурной динамике доменной структуры.