Аннотация:
Методами спектрофотометрии и эллипсометрии исследованы оптические характеристики пленок Sr$_{0.6}$Ba$_{0.4}$Nb$_2$O$_6$ (SBN60) различной толщины, выращенных методом ВЧ катодного распыления в атмосфере кислорода на подложках MgO(001) и MgO(110). Установлено, что только при росте пленок SBN60 на подложках MgO(110) обнаруживается существенная анизотропия их оптических свойств, которая усиливается по мере снижения толщины пленки. Обсуждаются причины выявленных закономерностей, а также роль наноструктуры пленок при анализе их оптических свойств.