Зависимость свойств эпитаксиальных тонких пленок титаната бария-стронция при изменении толщины

Проведены исследования гетероэпитаксиальных тонких пленок Ba$_x$Sr$_{1-x}$TiO$_3$ различной толщины в параэлектрической фазе при температуре 600$^\circ$C. Параметры решетки пленки показывают нелинейную зависимость от толщины. С уменьшением толщины происходит увеличение вынужденной деформации и увеличивается объем элементарной ячейки. Поведение вынужденной деформации при изменении толщины хорошо описывается в модели двойного электрического слоя, образовавшегося в процессе синтеза пленки на границе с подложкой.