Исследование искажений решетки в кристаллах SrTiO$_3$ с примесью хрома методом ионного каналирования

Представлены результаты исследований искажений решетки монокристаллов SrTiO$_3$ : Cr, полученные методом ионного каналирования. Исследованы два типа монокристаллов, содержащих одинаковое количество примеси Cr, но отличающихся стехиометрией. Монокристаллы выращивались методом Вернейля и имели составы: стандартно-выращенные SrTiO$_3$ : Сr (0.05 at.% Cr) и кристаллы, выращенные с дефицитом Sr и компенсирующим количеством хрома – Sr$_{0.9995}$TiO$_3$ (0.05 at.% Cr). Анализ угловых спектров каналирования свидетельствует, что в кристаллах обоих типов основным дефектом являются примеси Cr, занимающие октаэдрические позиции. В кристаллах SrTiO$_3$ : Cr примесные атомы проявляются как Cr$^{4+}$ с тетрагональными Ян-Теллеровскими искажениями окружающей решетки. В кристаллах Sr$_{0.9995}$TiO$_3$ : Cr, выращенных с дефицитом Sr, характерные смещения ионов Ti в третьей координационной сфере Ян-Теллеровского центра Cr$^{4+}$ обнаруживают эффект взаимодействия центра с соседствующей вакансией в подрешетке Sr.