Исследование поверхностей монокристаллических переходных металлов методом ИК спектроскопии ПЭВ

Методом ИК спектроскопии ПЭВ изучены поверхности монокристаллов V, Nb, Mo, W, Со, Ni и поликристаллов Сr, Pd, Fe. Получены зависимости длины пробега ПЭВ от частоты, причем величины длин пробега близки к предельным для данных материалов. Некоторое отличие связано с существованием остаточных микронеровностей для электрополированных монокристаллов. Для механически полированных и поликристаллических образцов на длину пробега ПЭВ оказывает влияние существующий нарушенный приповерхностный слой металла. Получены параметры, характеризующие величины микронеровностей и нарушенного слоя.