RUS  ENG
Полная версия
ЖУРНАЛЫ // Физика твердого тела // Архив

Физика твердого тела, 2010, том 52, выпуск 6, страницы 1045–1052 (Mi ftt13748)

Эта публикация цитируется в 22 статьях

Полупроводники. Диэлектрики

Теплопроводность высокопористых биоуглеродных матриц на основе дерева бука

Л. С. Парфеньеваa, Т. С. Орловаa, Н. Ф. Картенкоa, Н. В. Шаренковаa, Б. И. Смирновa, И. А. Смирновa, H. Misiorekb, A. Jezowskib, T. E. Wilkesc, K. T. Faberc

a Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, г. Санкт-Петербург
b Trzebiatowski Institute of Low Temperature and Structure Research, Polish Academy of Sciences, Wroclaw, Poland
c Department of Materials and Engineering, Robert R. McCormick School of Engineering and Applied Science, Northwestern University, Campus Drive, Evanston, USA

Аннотация: В интервале 5–300 K измерены теплопроводность $\varkappa$ и удельное электросопротивление $\rho$ высокопористых (с канальным типом пор) биоуглеродных матриц бука, приготовленных с помощью пиролиза (карбонизации) дерева бука в токе аргона при температурах карбонизации 1000 и 2400$^\circ$C. При 300 K проведен рентгеноструктурный анализ образцов. В них обнаружены нанокристаллиты, которые участвуют в формировании углеродных каркасов этих биоуглеродных матриц. Определены их размеры. Для образцов, полученных при $T_{\mathrm{carb}}$ = 1000 и 2400$^\circ$C, размеры нанокристаллитов находятся в пределах 12–25 и 28–60 $\mathring{\mathrm{A}}$. Зависимости $\varkappa(T)$ получены на образцах, вырезанных вдоль и поперек направления роста дерева. Значения $\varkappa$ возрастают с увеличением температуры карбонизации и размеров нанокристаллитов в углеродных каркасах образцов. При измерении теплопроводности у обоих типов образцов получена нестандартная для аморфных материалов температурная зависимость фононной теплопроводности. При повышении температуры от 5 до 300 K она сначала возрастает пропорционально $T$, а затем $\sim T^{1.5}$. Проведен анализ полученных результатов.

Поступила в редакцию: 02.09.2009


 Англоязычная версия: Physics of the Solid State, 2010, 52:6, 1115–1122

Реферативные базы данных:


© МИАН, 2026