Зависимость спектральной миграции возбуждений в активированных РЗЭ стеклах от энергетического зазора

Исследована зависимость эффективной вероятности миграции от зазора $W(\Delta E)$ при температуре 4.2 K для стекол на основе важнейших стеклообразующих окислов (SiO$_{2}$, GeO$_{2}$, P$_{2}$O$_{5}$, B$_{2}$O$_{3}$, TeO$_{2}$), активированных ионами Eu$^{3+}$ и Yb$^{3+}$. Для определения границ достоверности модели проводилось статистическое моделирование методом Монте–Карло. Показано, что для обоих активаторов во всех исследовавшихся матрицах зависимости $W(\Delta E)$ подобны. При ${\Delta E\to0}$ функция $W(\Delta E)$ монотонно спадает до нуля, что свидетельствует об однофононном процессе. Определены степенные зависимости (с показателем в диапазоне от 2-х до 3-х) для микроскопической вероятности передачи возбуждения между парой центров в приближении диполь-дипольного взаимодействия. Это свидетельствует о преобладающей роли недиагонального электронно-колебательного взаимодействия в процессе миграции возбуждений по редкоземельным ионам в стекле, что согласуется с данными по электронно-колебательным спектрам кристаллов, активированных РЗЭ.