Аннотация:
Методом микроконтактной (МК) спектроскопии в сверхпроводящем состоянии изучены малые нелинейности вольт-амперных характеристик (ВАХ) точечных контактов из монокристаллического Nb$_{3}$Sn. Обнаружено, что характер спектра электрон-фононного взаимодействия (ЭФВ) может существенно изменяться от контакта к контакту, указывая на значительные отклонения состава поверхности образцов Nb$_{3}$Sn от стехиометрии.
Установлена корреляция между характером спектра и величиной щелевых особенностей на ВАХ. Для грязных высокоомных контактов с большим уровнем щелевых особенностей обнаружена приемлемая повторяемость МК спектров, что позволяет достаточно близко связать их с МК функцией ЭФВ массивного материала. Показано, что МК спектроскопия ЭФВ в сверхпроводящем состоянии возможна не только в грязных $S{-}c{-}S$-, но и в грязных $S{-}c{-}N$-контактах.
УДК:
537.312.62:539.2
Поступила в редакцию: 20.09.1984 Исправленный вариант: 03.01.1985