Кулоновская щель и прыжковая проводимость в гранулированных пленках металл–полупроводник

Исследована электропроводность гранулированных пленок систем Sn$-$Ge и Ag$-$Ge. На температурном ходе сопротивления при понижении температуры и при уменьшении концентрации металла обнаружен переход от зависимости ${\rho(T)\sim\exp[(T_{0}/T)^{\alpha}]}$ с ${\alpha=1/4}$ (закон Мотта) к зависимости с ${\alpha=1/2}$. Такой переход интерпретируется как проявление кулоновской щели в прыжковой проводимости с переменной длиной прыжка.