Обнаружение проникновения молекул D$_{2}$O в поверхностный слой кристаллов LiF при их деформации в среде тяжелой воды

Методом вторичной ионной масс-спектрометрии обнаружено, проникновение молекул D$_{2}$O в поверхностный слой кристаллов LiF при их деформации сжатием по одной системе плоскостей в контакте с жидкой средой — тяжелой водой. Установлено, что в краевых полосах скольжения толщина поверхностного слоя кристалла, на которую проникают молекулы D$_{2}$O, и их концентрация тяжелой воды в этом слое гораздо больше, чем в винтовых. Полученные данные интерпретируются на основе явления дислокационно-динамической диффузии — проникновения атомов или молекул внешней среды в поверхностный слой кристаллов по движущимся дислокациям в процессе их деформации.