Аннотация:
Исследована температурная зависимость $\rho(T)$ образцов сплава Nb$-$Ge с различными критическими температурами $T_{c}$ и образца сплава Nb$-$Si. Проведено сравнение точности описания экспериментальной зависимости $\rho(T)$ разными моделями. Показано, что модель, связывающая аномальный характер зависимости $\rho(T)$ с «размытием» пика плотности электронных состояний вблизи энергии Ферми наиболее удовлетворительно описывает всю совокупность данных. Обсуждаются зависимости различных характеристик от длины свободного пробега электронов и корреляции их с $T_{c}$.