О дифракционном сдвиге изображения дислокации при $g{\times}b\ne0$ и ${s\ne0}$

Проведен детальный анализ факторов, влияющих на дифракционный сдвиг электронно-микроскопического изображения дислокации по отношению к истинному положению ее ядра. Установлена однозначная зависимость направления сдвига от дифракционных условий и параметров дислокации, что позволяет по известным $g, s$ направлению сдвига изображения определять знак произвольной дислокации. Объяснено поведение дифракционного контраста на изображении чисто сдвиговой петли и геликоидальной дислокации. Отмечено, что используемый подход к дифракционному анализу отдельных дислокаций удобен при изучении дислокационных сеток и различных сложных дислокационных конфигураций.