Аннотация:
Рентгенографическими методами широко расходящегося пучка, топографии углового сканирования и дифрактометрии установлено, что при определенных условиях пластической деформации сфалеритной модификации полисинтетических кристаллов сульфида цинка кристаллические плоскости (111) испытывают $S$-образный изгиб вокруг $[1\bar{1}0]$ вдоль направления наилегкого скольжения $[11\bar{2}]$. Одновременно с этим зафиксировано уменьшение концентрации дефектов упаковки. На основании полученных результатов сделан вывод о механизме раздвойникования полисинтетической структуры сфалерита как процесса последовательного движения частичных $\alpha$ и $\beta$ дислокаций вдоль плоскостей двойникования, приводящего к перемещению двойниковой границы в направлении неустойчивой упаковки слоев.